主要用于设计公司的测试程序（常温、高温、低温）和小批送样的验证工作。
用于实验室环境的IC测试分类，具备体积小，集成化高等特征。兼容ATE测试机与SLT测试板设计，最多支持2工位同测，支持常温、高温、低温测试要求。
